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場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡ZEISS GeminiSEM系列
長(cháng)久以來(lái)，蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM一直是高分辨力與寬樣品適用性的代名詞。無(wú)論您從事的研究方向是什么，GeminiSEM都可以滿(mǎn)足您的需求。創(chuàng )新的電子光學(xué)系統和新型樣品腔室設計可讓您擁有更佳的圖像質(zhì)量、易用性和靈活性。蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM兼具出色的成像和分析能力，不依靠浸沒(méi)式物鏡依然可以輕松實(shí)現1 kV以下的亞納米級分辨力。以下內容可以使您進(jìn)一步了解Gemini電子光學(xué)系統的三大獨特設計，探索蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM的應用潛能。
更靈活的成像工具 – 配備Gemini 1鏡筒的蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 360可以實(shí)現各種樣品的高分辨成像、分析和各種應用需求的拓展。
更強大的分析能力 - 配備Gemini 2鏡筒的蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 460可應對更加復雜的分析工作。連續可調的大束流使您可以在成像和分析條件之間無(wú)縫切換。
更高端的表征體驗 - 蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 560配有Gemini 3鏡筒及其新型電子光學(xué)引擎，讓它在各種工作條件下均可發(fā)揮該系列*出色的分辨率特性。
蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 360
它是中心實(shí)驗室的得力助手，在科研和工業(yè)領(lǐng)域中具有高通用性。
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| 靈活的樣品適用性 場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 360是中心實(shí)驗室的理想選擇，在科研和工業(yè)中具有非常高的通用性。 產(chǎn)品搭載Gemini 1鏡筒，在低電壓下依然具有高分辨成像能力，讓您輕松獲取樣品極表面高分辨信息。 通過(guò)鏡筒內二次電子和背散射電子同時(shí)成像，即使對于電子束敏感樣品也可以獲取高分辨的表面形貌和成分襯度。 在低真空下（NanoVP）拍攝不導電樣品時(shí)，依然可以通過(guò)鏡筒內Inlens探頭獲得優(yōu)異襯度：無(wú)荷電高分辨。 |
出色的用戶(hù)體驗 場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 360可提供出色的用戶(hù)體驗：該產(chǎn)品具有廣闊的視野范圍和大體積腔室，可以輕松檢測大尺寸樣品。 利用蔡司ZEN Connect軟件可在多種顯微鏡（例如光鏡、電鏡、X射線(xiàn)顯微鏡）之間進(jìn)行無(wú)縫導航。 使用蔡司特有的自動(dòng)對焦和智能探測器等自動(dòng)功能輕松采集清晰、銳利的圖像。 具有對稱(chēng)的EDS端口和共面的EDS / EBSD幾何設計，可高效執行成像和分析工作流程。 可有效延長(cháng)系統正常運行時(shí)間，并讓您從容地進(jìn)行計劃內維護。 |
優(yōu)異的功能擴展性 可升級的系統可有效減少重復投資。因此，我們將場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 360融入蔡司ZEN core軟件生態(tài)系統中。 ZEN軟件生態(tài)系統包括：ZEN Connect可關(guān)聯(lián)多儀器、多尺度數據；ZEN Intellesis是基于A(yíng)I的自動(dòng)分析工具； ZEN數據存儲功能可以讓您在一個(gè)數據中心節點(diǎn)上管理不同儀器的實(shí)驗數據。 可訪(fǎng)問(wèn)作為APEER社區成員的其他用戶(hù)創(chuàng )建的工作流和腳本，幫助您解決難題。 .明確的升級路徑幫助您的設備更好地升級*新的功能。 |
蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 460
具有更強大的分析能力，可進(jìn)行高效分析和自動(dòng)化的工作流程。
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| 利用高分辨率和大束流 場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 460專(zhuān)為有挑戰性的分析任務(wù)而設計，可進(jìn)行高效分析和自動(dòng)的工作流程。 Gemini 2鏡筒可快速執行高分辨成像和大束流分析：從小束流-低電壓無(wú)縫切換到大束流-高電壓。 并行使用多個(gè)探測器，提供樣品的全方位數據。 多接口腔室設計可兼容更多探測器，以進(jìn)行高效分析。 使用新的VP模式在大束流下采集EBSD譜圖可達4000點(diǎn)/秒的標定率。 對于化學(xué)成分和晶體取向的分析，具有兩個(gè)對稱(chēng)的EDS端口和共面的EDS/EBSD幾何學(xué)設計，可實(shí)現更快速度且無(wú)陰影的面分析結果。 |
定制化的自動(dòng)化工作流程 強大的分析功能與自動(dòng)化流程相結合，讓您的分析工作更進(jìn)一步。并且蔡司還可以通過(guò)Python腳本來(lái)定制您自己的自動(dòng)化實(shí)驗。 修改實(shí)驗過(guò)程并根據您的要求定制結果輸出。 STEM三維成像功能：將自動(dòng)傾斜和旋轉與蔡司特有的特征點(diǎn)跟蹤相結合。將所有自動(dòng)對齊的圖像發(fā)送到專(zhuān)有的3D重構軟件后，生成具有納米級分辨率的3D形貌。 當您需要測試材料的加工特性時(shí)，蔡司將為您提供自動(dòng)化的原位加熱和拉伸實(shí)驗平臺：它可以讓您自動(dòng)觀(guān)察在加熱和拉伸條件下的材料，同時(shí)動(dòng)態(tài)繪制應力-應變曲線(xiàn)。 |
為您帶來(lái)更多可能性 基于Gemini 2鏡筒設計，即使在低電壓時(shí)，也可以通過(guò)調高束流密度來(lái)提高分析能力。 能夠使系統與各種配件相兼容。多功能型腔室不僅可以配置分析附件，還可以配置原位臺、冷凍傳輸系統和納米探針。 .因此，您可以隨時(shí)對儀器進(jìn)行配置更改和升級。 所有GeminiSEM均已融入蔡司ZEN core生態(tài)系統，您可以利用ZEN Connect、ZEN Intellesis和ZEN分析模塊，以獲取報告和GxP工作流程。 |
蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 560
更高端的表征體驗，讓您輕松對困難樣品進(jìn)行1 kV以下的高分辨、無(wú)畸變成像。
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| 表面成像的新標準 場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 560全面提升你的電鏡體驗，即使在1kV以下也可以很輕松地對電子束敏感的樣品進(jìn)行無(wú)畸變高分辨的成像。 Gemini 3鏡筒搭載Nano-twin物鏡和新型電子光學(xué)引擎Smart Autopilot，可在1 kV以下對樣品進(jìn)行1 nm以下分辨率的無(wú)漏磁成像-無(wú)需樣品臺偏壓或單色器。 通過(guò)新的可變氣壓模式和檢測系統對不導電及氣壓敏感的樣品進(jìn)行成像：將真空敏感樣本通過(guò)低真空樣品交換室進(jìn)入電鏡腔室，可以維持樣品*本征的結構后快速成像。 利用帶雙EDS接口的新型大型腔室，輕松分析復雜樣品。通過(guò)優(yōu)化的探測器幾何設計確�？焖�、無(wú)陰影的圖像。 |
融合專(zhuān)業(yè)知識 新的電子光學(xué)引擎Smart Autopilot可全面提升對高難度樣品的成像體驗。 新系統的大視野功能可讓您輕松進(jìn)行樣品導航。 Smart Autopilot可讓您節省時(shí)間，同時(shí)避免進(jìn)行復雜的的光路對中：該引擎可自動(dòng)調整光路，讓圖像從一倍放大至五十萬(wàn)倍時(shí)始終保持光路對中聚焦良好的狀態(tài)。 Smart Autopilot包含蔡司特有的自動(dòng)對焦和自動(dòng)光路對中功能，可在幾秒內為您提供清晰、銳利的圖像。 Python腳本能夠在自動(dòng)化工作流程（例如3D STEM斷層成像）中集成軟件功能。 |
體驗出色的襯度 樣品拍攝中的*佳成像條件，意味著(zhù)您結合了*佳的參數組合來(lái)獲得完美的圖像：所以拍圖訣竅就是找到它。 Gemini鏡筒技術(shù)及其無(wú)漏磁成像技術(shù)和全新的Gemini 3鏡筒可使您找到這些*佳成像條件，并從樣品中發(fā)現新的信息。 場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 560可以輕松拍攝磁疇襯度，它在樣品上的磁場(chǎng)小于2 mT。 使用帶能量過(guò)濾器的Inlens背散射探測器進(jìn)行能量分辨背散射電子成像，同時(shí)通過(guò)環(huán)形背散射探測器進(jìn)行角分辨背散射電子成像。 通過(guò)ZEN Connect對所有數據進(jìn)行整合，輕松生成報告。 |
